Janusz Rajski

---

Życiorys

Studia magisterskie Janusz Rajski rozpoczął na Wydziale Elektrycznym Politechniki Poznańskiej w 1968 roku, a w 1969 przeniósł się na Wydział Elektroniki Politechniki Gdańskiej. W 1973 roku uzyskał tytuł magistra inżyniera, specjalizując się w automatyce oraz maszynach cyfrowych. Jego praca doktorska została obroniona 25 maja 1982 roku na Wydziale Elektrycznym Politechniki Poznańskiej.

W 1984 roku rozpoczął swoją karierę zawodową w Department of Electrical Engineering Uniwersytetu McGilla w Montrealu, gdzie od 1989 roku piastował stanowisko associate professor with tenure. Prowadził wykłady dotyczące projektowania układów cyfrowych, organizacji maszyn cyfrowych oraz testowania urządzeń w skali wielkiej integracji. Jego współpraca z czołowymi firmami, takimi jak Bell Northern Research, Bell Canada, IBM i Canadian Microelectronics Corporation, przyczyniła się do rozwoju innowacyjnych technologii. W latach 1992-1994 był także profesorem wizytującym w Lozannie.

Od 1995 roku pracował w Mentor Graphics Corporation w USA, gdzie zajmował się opracowywaniem nowych technologii związanych z testowaniem układów scalonych. W 2003 roku prezydent Rzeczypospolitej Polskiej przyznał mu tytuł profesora nauk technicznych. Ponadto, jest członkiem Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) w randze Fellow of IEEE.

Dorobek naukowy Rajskiego obejmuje m.in. współautorską monografię, 가까로 250 opublikowanych artykułów oraz referatów dotyczących testowania układów cyfrowych. Jest także autorem blisko 100 patentów w USA i Unii Europejskiej. W 2013 roku jego prace były cytowane ponad 7500 razy. Jest dwukrotnym laureatem nagrody im. Donalda O. Pedersona, przyznawanej przez IEEE Circuits and Systems Society, oraz zdobywcą nagrody im. Stephena Swerlinga.

Zainteresowania naukowe profesora obejmują aspekty komputerowo wspomaganego projektowania i testowania układów cyfrowych, takie jak automatyczna generacja testów, kompresja danych testowych, czy projektowanie układów umożliwiających autotestowanie. Opracował pierwszą na świecie metodę kompresji danych testowych, znaną jako TestKompress, która służy do wykrywania uszkodzeń w złożonych systemach cyfrowych. Ta technologia znalazła zastosowanie w produkcji układów scalonych przez wielu renomowanych producentów sprzętu elektronicznego, obejmując ponad 50% rocznej produkcji ASIC i 90% mikroprocesorów, co czyni ją jednym z najważniejszych osiągnięć w dziedzinie testowania układów scalonych w ciągu ostatnich czterdziestu lat.

W latach 1996-2000 brał udział w pracach grupy roboczej IEEE nad standardem IEEE P1500, a także był członkiem zespołu International Technology Roadmap for Semiconductors. Dodatkowo, w latach 1993-1997 wspierał kanadyjską federalną agencję grantową Natural Sciences and Engineering Research Council. Był również aktywnym uczestnikiem komitetów programowych międzynarodowych konferencji naukowych, a także komitetów redakcyjnych wielu czasopism naukowych. Pełnił rolę promotora lub współpromotora przy 18 przewodach doktorskich na Uniwersytecie McGilla oraz na Wydziale Elektroniki i Telekomunikacji Politechniki Poznańskiej. Zainicjował otwarcie drugiego oddziału badawczo-wdrożeniowego firmy Mentor Graphics w Polsce, w Poznaniu, w 2008 roku.

---

Oceń: Janusz Rajski

---